词语繁体：內建自測試
词语读音：nèi jiàn zì cè shì
首字拼音：Nei
词语拼音：nei jian zi ce shi
词语简拼：NJZCS
词语字数：五字词语
内建自测试（英语：built-in self-test, BIST）是可测试性设计的一种实现技术。
【内的意思】：内 nèi（ㄋㄟˋ） （一）、里面，与“外”相对：内部。内外。内定。内地。内阁。内行（ háng ） 详情>
【建的意思】：建 jiàn（ㄐ一ㄢˋ） （一）、立，设置，成立：建立（ａ．开始成立；ｂ．开始产生，开始形成）。建树 详情>
【自的意思】：自 zì（ㄗˋ） （一）、本人，己身：自己。自家。自身。自白。自满。自诩。自馁。自重（ zhòng 详情>
【测的意思】：测（測） cè（ㄘㄜˋ） （一）、利用仪器来度量：测绘。测量。测控。测算。观测。（二）、检定，检验： 详情>
【试的意思】：试（試） shì（ㄕˋ） （一）、按照预定的想法非正式地做：试车。试图。试航。试问。尝试。试金石。（ 详情>
• 基于内建自测试的伪随机测试向量生成方法
• 提出了一种动目标检测雷达数字信号处理机内建自测试方法。
• 本文提出了采用模拟多路开关的模拟内建自测试电路ABIST的一种新结构。
• 重新播种的测试方法是一种内建自测试方法，它可以用来提高伪随机测试矢量的故障覆盖率。
• 软件内建自测试是一种新型的软件测试方法，该文研究了其中的模板库设计和测试路径执行的问题。
• 随着手持设备的兴起和芯片对晶片测试越来越高的要求，内建自测试的功耗问题引起了越来越多人的关注。
• 文中首先介绍了内建自测试的实现原理，在此基础上以八位行波进位加法器为例，详细介绍了组合电路内建自测试的设计过程。
• 详细分析了嵌入式存储器的典型内建自测试方案，讨论了在内建自测试电路中增加内建冗馀分析、内建故障诊断和内建白修复等功能的可行性。